8月16-17日，香山科学会议第 789 次学术讨论会在苏州成功召开。本次会议以“信息器件原子级制造实验装置”关键科学技术问题为主题，围绕“原子级材料精准创制”“原子级极限表征分析”“信息器件原子级制造”“AI 赋能原子级制造”四大中心议题，开展了学术平等、自由争鸣的跨领域科技交流。会议采用“1位专家做中心议题综述报告+3位专家做专题报告”的形式，对四大中心议题展开深入研讨。其中，姑苏实验室仪器装备工程化中心主任申德振受邀参会，并作为“原子级极限表征分析”中心议题的综述报告人，以“半导体点缺陷的单原子尺度精准表征与控制”为题作中心议题综述报告。

报告中，申德振从半导体点缺陷的单体表征与控制的单原子尺度精准光谱表征的科学问题入手，介绍团队承担的国家重大科研仪器研制项目【宽禁带半导体点缺陷的单体光电特性表征仪器系统】和中国科学院科研仪器设备研制项目【基于室温“零漂移”扫描探针技术的原子尺度半导体电光特性表征仪器系统】所涉及的针对半导体材料表面下点缺陷的单原子级分辨的拉曼振动光谱表征分析技术，并进一步探讨展望了原子级极限表征分析技术在硅基半导体原子制造器件与芯片检测、单原子尺度精准的半导体量子器件制造、宽禁带半导体单原子掺杂与表征等领域的未来发展前景，引起了与会专家的广泛共鸣和热烈讨论。

香山科学会议是由科技部（原国家科委）1992年倡导发起、1993年4月在科技部与中国科学院共同支持下正式创办的高端学术平台，此次会议由南方科技大学、清华大学教授薛其坤，中国科学院研究员詹文龙，复旦大学教授刘明，苏州大学教授迟力峰，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所研究员王强斌担任执行主席。

本次会议围绕集成电路信息器件、人工智能赋能材料制造等核心领域，探讨原子级制造关键科学问题与技术挑战，有力推动原子级制造领域原始创新、学科交叉和重大技术突破，为发展新质生产力提供强力支撑。